高信頼性試験装置
スキャン機能により多くの製品を一括で測定可能。
独自の加熱、電圧印加方式で、バーンイン、スクリーニング、ハルト試験耐候性試験が可能。
R&D向け仕様。
[対象製品]MLCC、タンタルコンデンサ、アルミ積層コンデンサ、全個体電池、チップ抵抗
[用 途]各種電子部品の電気特性検査、車載用製品向けの信頼性検査
自動バーンイン検査装置
スキャン機能により多くの製品を一括で測定可能。
独自の加熱、電圧印加方式でバーンイン、スクリーニング、ハルト試験、耐候性試験が可能。
量産仕様。
[対象製品]MLCC、タンタルコンデンサ、アルミ積層コンデンサ、全個体電池、チップ抵抗
[用 途]MLCC、各種電子部品検査
外観検査付き電気特性検査装置
スキャン機能により多くの製品を一括で測定可能。
装置を複合化して省スペースを実現。
[対象製品]MLCC、タンタルコンデンサ、アルミ積層コンデンサ、全個体電池、チップ抵抗
[用 途]各種電子部品の電気特性検査、外観検査一体装置
大型コンデンサ、電池試験用設備
高電圧の耐圧試験、充放電試験が対応可能
[対象製品]アルミ電解コンデンサ、フイルムコンデンサ、電池、電気二重層
[用 途]各種電子部品の電気特性検査、大型電解コンデンサ、電池
サーミスター自動組立検査システム
サーミスターの組立てから検査までを一貫して行える装置
[対象製品]サーミスター
[用 途]サーミスター組立・検査
テーピング装置
キャリアテープ（樹脂製・紙製）の専用テープに連続的に実装して一定数量毎にリールに巻き付け、チップを出荷できる形態にする装置。
[対象製品]MLCC、チップコンデンサ、抵抗等
[用 途]各種電気部品をテーピに実装する装置
位相差式キャパシタンスブリッジ （コンデンサ容量精密測定器）
基準抵抗器と被測定コンデンサとの関係を1対1とするブリッジ構成で位相差をデジタルで測定する事により、コンデンサの静電容量値と誘電
正接値を高速で計測する事が可能。120Hzと1kHzを一度の測定で連続計測する事が可能で最大繰返し測定は120Hzの場合は9回、1kHzの場合41回計測して平均値を計測します。
[対象製品]タンタルコンデンサー、MLCC、フィルムコンデンサ、アルミ電界コンデンサ、アルミ積層コンデンサ、高分子コンデンサ
[用 途]コンデンサの静電容量と誘電正接値の測定
